Rtec 3d screatch tester 2.png

Rtec 3d screatch tester 2.png

FIlter Paper Image on Rtec Universal Pro

FIlter Paper Image on Rtec Universal Pro

Sand Paper Image on Rtec Universal Profi

Sand Paper Image on Rtec Universal Profi

Ink Image on Rtec Universal Profiler.png

Ink Image on Rtec Universal Profiler.png

coin Image on Rtec Universal Profiler.jp

coin Image on Rtec Universal Profiler.jp

Wafer on Rtec Universal Profiler.png

Wafer on Rtec Universal Profiler.png

Wafer Image 2 on Rtec Universal Profiler

Wafer Image 2 on Rtec Universal Profiler

Wafer Image 4 on Rtec Universal Profiler

Wafer Image 4 on Rtec Universal Profiler

Via image on Rtec Universal Profiler.png

Via image on Rtec Universal Profiler.png

Polymer Coating Image on Rtec Universal

Polymer Coating Image on Rtec Universal

Diamond  Image on Rtec Universal Profile

Diamond Image on Rtec Universal Profile

Abrazive Image on Rtec Universal Profile

Abrazive Image on Rtec Universal Profile

Универсальный профилометр

Революционный прибор уникально сочетает в себе 4 режима визуализации. Легкое отображение любых поверхностей - даже прозрачных и изогнутых.

Выпущенный на рынок в 2016 году компанией RTEC универсальный оптический 3Dпрофилометр произвел революцию в оптической профилометрии. Прибор разработан и изготавливается в Кремниевой долине, Калифорния, США. Профилометр используется в ведущих лабораториях, университетах и отраслях по всему миру.


3D оптический профилометр UP-24 единственный в своем роде сочетает в себе 4 режима визуализации в одном приборе: Интерферометр белого света (WLI) и Конфокальный микроскоп типа Нипков на выбор. Эта комбинация позволяет легко бесконтактно и с высокой точностью отсканировать любую поверхность - прозрачную, плоскую, темную, плоскую, изогнутую и т. д.


Каждый режим визуализации имеет свое преимущество, и все методы дополняют друг друга:


● Интерферометр белого света

● Конфокальная микроскоп

● Микроскопия темного поля

● Микроскопия светлого поля


ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

● Стандартный моторизованный стол для образцов с ходом 150x150 мм (опционально 210x310 мм)

● Стандартная турель на 5 объективов, (опционально моторизованная турель)

● Вертикальный диапазон перемещения модулей до 100 мм

● Разрешение по осям X и Y 0.1 мкм

● Разрешение по Z 0,1 нм

● Наклон ступени 6 градусов

● Съемка уклонов до 75 градусов

● Автоматическая сшивка изображений больше поля сканирования


МОДУЛИ ПРОФИЛОМЕТРА

● Модуль СИГМА – Интерферометр белого света

● Модуль ЛЯМБДА- Интерферометр белого света + 3D Конфокальный микроскоп + темное поле + светлое поле

● Бинокуляры (опция)


ПРИМЕНЕНИЕ

● Шероховатость по различным стандартам

● Объем следа износа в трибологии или скретч тестере

● Высота ступеньки

● Толщина пленки

● Полная цифровая топография поверхности


Широкий спектр применений

Простота использования позволяет этому прибору играть важную роль во многих отраслях промышленности - от высоких технологий до традиционных отраслей. Профилометр может использоваться как для исследований, так и для рутинного анализа в производстве и контроле качества.


Шероховатость поверхности

Толщина пленки

Высота ступени

  • Объем следа износа

Износ тонких пленок (Кривизна)

Трещины, Дефекты

Измерение наклона

Подповерхностные особенности


Критерии разрушения покрытия

Гладкие покрытия

“Грубые” покрытия

2D материалы

Прозрачные покрытия

Темные покрытия

Блестящие поверхности

Плоские поверхности

Не плоские поверхности

  • Керамика, металл, полимеры

 

©2020 Rtec Instruments. Scientific Ltd Co

Wafer Image 4 on Rtec Universal Profiler